전기전자응용분야
양산테스트 분야
전기 전자 제품의 특성은 다양한 전자적 신호 입력 및 TCP/IP , UART 등을 통하여 제품과 직접 통신하여 명령 이행 여부 및 상태(전압 , 전류 , 통신)등을 점검한다.
각 제품의 시스템 스팩을 만족하는지에 대한 검사가 이루어지며 다양한 지그 제작을 통하여 고객이 원하는 사양으로 제어계측기가 제작되어 진다.
1. 프로젝트 개요 - X선 조사를 통한 발광형광시료의 분석 시험 2. 개발업무 - X-ray Tube 제어 및 XYZ 3축제어를 통한 자동운전 - 비젼카메라를 통한 이미지분석 - 다양한 종류의 샘플 자동측정 분석 3. 세부설명 - 시스템 사양 : LabVIEW2010, 고해상Camera, 모션제어모듈 등 - 제어계측 : 모션제어, X-Tueb제어, 아날로그/디지털입출력 - 통신 : 시리얼, TCP/IP Photoluminescence 분석시스템이며 특정한 양과 시간의 X선을 조사하여 시료 등의 발광체를 정밀분석하는 시스템입니다. X-ray Tube, Vision& Motion Machine를 이용하여 대량의 샘플을 자동측정 및 분석하는 프로그램입니다. 의학 및 전자분야에 적용가능합니다.
1. 프로젝트 개요 - 고전압 , 고습도 상태에서 발생되는 PCB Short현상(마이그레이션)을 계측하기 위한 장비로써 장시간 테스트가 가능하다. 2. 개발업무 - 기본 G옴대의 고저항 측정이 기존 DMM으로는 불가능하기에 우회 측정 방식을 통하여 1%내 오차로 계측이 가능하다. - 수많은 테스트를 통하여 가장 정확성 있는 테스트 규격을 제공한다. 3. 세부설명 - 시스템 사양 : LabVIEW 2012 , DMM , Relay Card - 제어 계측 : 아날로그 입력/디지털입력 -통신 : 시리얼 , TCP/IP
1.프로젝트 개요 - 차량용 외장 램프의 조도 및 색온도 분포 측정 및 판별 - 차량용 외장 램트의 소비전력량 측정 2.개발업무 - 자동 조명 암실 테스트 - 비젼 카메라를 이용한 빛 균일도 측정 - 조도계를 이용한 조도 및 색온도 측정 - 소비전력 측정 3. 세부설명 - 시스템 사양 : Labview 2012 , 저해상도 카메라 - 제어 계측 : 실린더 제어 , 소비 전력 측정 , NI USB DIO - 통신 : RS485 통신 차량 외장 엠프의 단선 및 빛 출력 테스트 기준 설비로써 단시간내에 제품의 이상 유무를 판별해 준다.
1. 프로젝트 개요 - X선 조사를 통한 발광형광시료의 분석 시험 2. 개발업무 - X-ray Tube 제어 및 XYZ 3축제어를 통한 자동운전 - 비젼카메라를 통한 이미지분석 - 다양한 종류의 샘플 자동측정 분석 3. 세부설명 - 시스템 사양 : LabVIEW2010, 고해상Camera, 모션제어모듈 등 - 제어계측 : 모션제어, X-Tueb제어, 아날로그/디지털입출력 - 통신 : 시리얼, TCP/IP Photoluminescence 분석시스템이며 특정한 양과 시간의 X선을 조사하여 시료 등의 발광체를 정밀분석하는 시스템입니다. X-ray Tube, Vision& Motion Machine를 이용하여 대량의 샘플을 자동측정 및 분석하는 프로그램입니다. 의학 및 전자분야에 적용가능합니다.
물류자동화 분야
계측 시스템의 결과 정보가 MES DB를 통하여 재고 및 출하 파악을 무선바코드를 통하여 실시간 업데이트 되며 출하 박스용 제품 바코드 출력까지 지원하는 물류자동화 시스템입니다.
다양한 제품의 모델 등을 출하 관리시 필요한 시스템입니다. 재고 관리 시스템으로도 다양하게 사용되어지고 있습니다.
1. 프로젝트 개요 - 공장 제품 출하 세트 관리 시스템 2. 개발업무 - 출하시 박스내 제품 패키지 정보를 DB화 시켜 주문사에 전송함. - 세트 확인시 무선 바코드와 음성을 이용하여 공간 제약 없이 작업 3. 세부 설명 - 시스템 사양 : PC, LabVIEW 2012 - 계측 : 무선바코드 - 제어 : 없음 - 통신 : TCP/IP
1. 프로젝트 개요 - 공장 제품 출하 세트 관리 시스템 2. 개발업무 - 출하시 박스내 제품 패키지 정보를 DB화 시켜 주문사에 전송함. - 세트 확인시 무선 바코드와 음성을 이용하여 공간 제약 없이 작업 3. 세부 설명 - 시스템 사양 : PC, LabVIEW 2012 - 계측 : 무선바코드 - 제어 : 없음 - 통신 : TCP/IP
디스플레이 테스트 분야
광 측정을 목표로 하는 디스플레이 테스트 분야는 고속 응답성과 저전압신호분석 능력이 요구됩니다. FPGA 및 고속 Scope, 초고속 DIO의 싱크를 통하여 Micro second 단위의 신호 대 디스플레이 응답성 테스트등이 가능하고 널리 사용되어 지고 있는 영상분석기 및 비젼 측정 설비를 통하여 다양한 측정을 지원하여 준다.
1. 프로젝트 개요 - LCD 소자 IV 특성 검사 시스템 2. 개발업무 - 전압과 전류 변화에 따른 광량 변화 측정 - 전압과 전류 값에 대한 스펙트럼 검색 시스템 제작 - 전압 전류에 대한 일반적인 트렌드 생성 3. 세부설명 - 시스템 사양 : NI PXI 시스템 , LabVIEW 2012 - 계측 : NI 아날로그 입력보드 - 제어 : NI 아날로그 출력보드 , 광 스펙트럼 분석기 - 통신 : USB
1. 프로젝트 개요 - LCD 소자 IV 특성 검사 시스템 2. 개발업무 - 전압과 전류 변화에 따른 광량 변화 측정 - 전압과 전류 값에 대한 스펙트럼 검색 시스템 제작 - 전압 전류에 대한 일반적인 트렌드 생성 3. 세부설명 - 시스템 사양 : NI PXI 시스템 , LabVIEW 2012 - 계측 : NI 아날로그 입력보드 - 제어 : NI 아날로그 출력보드 , 광 스펙트럼 분석기 - 통신 : USB